X射線(xiàn)熒光光譜儀的工作原理大剖析

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀的工作原理大剖析

　　X射線(xiàn)是用高速電子轟擊原子的內層電子，使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時(shí)外層的電子躍遷到缺少電子的內層軌道。在此過(guò)程中會(huì )伴隨著(zhù)以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長(cháng)小，肉眼不可見(jiàn)，稱(chēng)之為X射線(xiàn)。

　　X射線(xiàn)熒光的波長(cháng)是以受激物質(zhì)（待測物質(zhì)）的原子序數為特征的，原子序數越大的物質(zhì)波長(cháng)越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線(xiàn)熒光波長(cháng)，這是用X射線(xiàn)熒光原理的X射線(xiàn)熒光光譜儀進(jìn)行定性分析的依據;而元素受激發(fā)射出來(lái)的特征X射線(xiàn)熒光的強度則取決于該元素的含量，這是定量分析的依據。

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線(xiàn)源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器。一次X射線(xiàn)源用X光管，它產(chǎn)生的一次X射線(xiàn)轟擊樣品表面，使樣品激發(fā)出二次X射線(xiàn)。二次X射線(xiàn)經(jīng)平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線(xiàn)在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過(guò)程中是回轉的，即θ是連續變化的，θ的變化會(huì )使反射光的波長(cháng)隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據。這種變化波長(cháng)的反射線(xiàn)投射到與分光晶體聯(lián)動(dòng)的檢測器上，檢測器便輸出一個(gè)與平面分光晶體反射線(xiàn)強度成比例的信號，它是定量分析的依據。記錄顯示儀表的記錄紙移動(dòng)的距離與2θ有關(guān)，所以記錄下來(lái)的曲線(xiàn)就是熒光光譜圖，其橫坐標是波長(cháng)，縱坐標是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結果。