影響鍍層測厚儀測試的11種因素
鍍層測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
影響
鍍層測厚儀測試的因素有以下幾點(diǎn)：
1、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。
2、基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應：
鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。
5、曲率：試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形：測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
7、表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。
8、磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著(zhù)物質(zhì)：
鍍層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
10、測頭壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
11、測頭的取向：測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
