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關(guān)于XRF檢測儀的分析說(shuō)明

更新時(shí)間：2024-04-02

　　X射線(xiàn)熒光光譜(XRF)具有干擾小、分析速度快、并且可以同時(shí)進(jìn)行多元素分析等優(yōu)點(diǎn)，是固體物質(zhì)成分分析的常規檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。XRF分析儀具有快速、無(wú)損等特點(diǎn)，因此被廣泛應用于材料檢測與分析領(lǐng)域。

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種元素分析工具，幾十年來(lái)一直是檢測實(shí)驗室的主要分析儀器之一。這種多樣化的無(wú)損檢測方法只需要很少的樣品制備工作，并且對操作人員的經(jīng)驗要求并不是太高，而且，該檢測技術(shù)還可以快速提供準確的檢測結果。

　　X射線(xiàn)熒光(XRF)是用高能量X射線(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線(xiàn)。這種現象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。

　　原理：

　　當物質(zhì)受到入射X射線(xiàn)的輻射時(shí)，其中的原子會(huì )吸收入射X射線(xiàn)的能量，然后再以熒光的形式重新輻射出來(lái)。

　　不同元素對應不同的熒光信號，通過(guò)測量和分析這些熒光信號的能量和強度，可以準確判斷樣品中所含有的元素。

　　XRF分析儀的主要構成部分包括X射線(xiàn)發(fā)生器、樣品臺、熒光探測器和數據處理系統。

　　X射線(xiàn)發(fā)生器負責產(chǎn)生入射X射線(xiàn)，樣品臺用于放置待測樣品，熒光探測器則用于測量熒光發(fā)射信號，數據處理系統負責對測量結果進(jìn)行分析和處理。