關(guān)鍵詞搜索: ROHS檢測儀,鹵素測試儀,x射線(xiàn)熒光光譜儀,重金屬檢測儀,鍍層膜厚分析儀,手持合金分析儀,手持礦石分析儀,手持土壤分析儀,ROHS2.0分析儀,rohs十項檢測儀,鄰苯檢測儀,色譜儀,光譜儀

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                                        直讀光譜儀的誤差來(lái)源是什么?

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                                          光譜儀的誤差來(lái)源在哪?接下來(lái)由一諾機電光譜儀的小編為大家講解一下:
                                          光電直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高,但測定試樣中元素含量時(shí),所得結果與真實(shí)含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素的影響,有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類(lèi)、來(lái)源及如何避免誤差進(jìn)行分析。
                                          根據誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因,誤差可分為下面幾種:
                                          1.系統誤差的來(lái)源
                                          (1)標樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí),可能引起基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強度改變,從而引入誤差。
                                          (2)標樣和試樣的物理性能不相同時(shí),激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì )有差別從而產(chǎn)生系統誤差。
                                          (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時(shí),測出的數據會(huì )有所差別。
                                          (4)未知元素譜線(xiàn)的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí),混入未知合金元素而引入系統誤差。
                                          (5)要消除系統誤差,必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差,就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結果。
                                          2.偶然誤差的來(lái)源
                                          與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少,樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性,導致不同部位的分析結果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下:
                                          (1)熔煉過(guò)程中帶入夾雜物,產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。
                                          (2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
                                          (3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過(guò)熱、試樣磨面放置時(shí)間太長(cháng)和壓上指紋等因素。
                                          (4)要減少偶然誤差,就要精心取樣,消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷,也可以重復多次分析來(lái)降低分析誤差。
                                          3.其他因素誤差
                                          (1)氬氣不純。當氬氣中含有氧和水蒸氣時(shí),會(huì )使激發(fā)斑點(diǎn)變壞。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去,分析結果會(huì )變差。
                                          (2)室內溫度的升高會(huì )增加光電倍增管的暗電流,降低信噪比。濕度大容易導致高壓元件發(fā)生漏電、放電現象,使分析結果不穩定。
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