探討膜厚測試儀在測量時(shí)需要注意的事項！

　　探討膜厚測試儀在測量時(shí)需要注意的事項！

　　膜厚測試儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線(xiàn)儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

　　臺式的熒光X射線(xiàn)膜厚測試儀，是通過(guò)一次X射線(xiàn)穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，在通過(guò)計算二次熒光的能量來(lái)計算厚度值。

　　膜厚測試儀測量時(shí)需要注意的事項：

　　1、首先大家在用測量?jì)x進(jìn)行測試使用時(shí)，要選用與試件相似的金屬磁性標準片來(lái)進(jìn)行測量，不要選擇差別或者區分過(guò)大的標準片來(lái)試驗測量，不然會(huì )導致很大的測量誤差。

　　2、其次用戶(hù)需要把測量?jì)x的側頭與試樣表面保持垂直，不要出現任何的傾斜，否則不利于測量工作的順利展開(kāi)，會(huì )讓測量任務(wù)半途而廢的，變得毫無(wú)意義。

　　3、我們要把膜厚測量?jì)x放置在沒(méi)有磁性干擾的場(chǎng)所來(lái)進(jìn)行測試，否則會(huì )對儀器的測量性能造成影響，使得測量?jì)x器不能夠發(fā)揮出應有的測量水平來(lái)。

　　4、用戶(hù)在進(jìn)行測量?jì)x的測量過(guò)程中，需要保持壓力的恒定，不然很容易影響到測量的讀數，會(huì )給大家帶來(lái)不利的影響，讓大家不能記錄到正確化的讀數結果。

　　5、測量?jì)x在使用時(shí)要讓儀器測頭和被測試件有直接性接觸，如果兩種之間有雜質(zhì)存在的話(huà)，需要先進(jìn)行清理方可再展開(kāi)測量工作。

　　6、大家在使用膜厚測量?jì)x進(jìn)行測試的時(shí)候，不要在內轉角處和靠近試件邊緣處進(jìn)行測量，這樣會(huì )造成測量結果的誤差，會(huì )給我們帶來(lái)不便性的。讓測量出來(lái)的數據是沒(méi)有任何參考價(jià)值意義的。