許多ROHS儀器用戶(hù)大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來(lái)完成作業(yè)的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線(xiàn)熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。X射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。
X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。
然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量，在有關(guān)X射線(xiàn)熒光光譜儀技術(shù)原理我們有更多的關(guān)于X射線(xiàn)熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關(guān)介紹。
下面讓我們來(lái)了解一下XRF-X射線(xiàn)熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)都有哪些？
XRF-X射線(xiàn)熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)主要有六個(gè)組成部分，他們分別是：
1.分析速度高
測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
2.X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)
X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。
3.化學(xué)狀態(tài)的改變
非破壞分析在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
4.物理分析法
X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密度高。
制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
而XRF-X射線(xiàn)熒光光譜儀的缺點(diǎn)卻只有三項，他們分別是：
1.難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受相互元素干擾和疊加影響。
