如何利用XRF鹵素檢測儀器進(jìn)行定量分析？

　　如何利用XRF鹵素檢測儀器進(jìn)行定量分析？

　　在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線(xiàn)，就會(huì )產(chǎn)生元素1的熒光X射線(xiàn)，不過(guò)這個(gè)時(shí)候的熒光X射線(xiàn)的強度會(huì )隨著(zhù)樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線(xiàn)的強度就會(huì )變強。注意到這一點(diǎn)，如果預先知道已知濃度樣品的熒光X射線(xiàn)強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時(shí)候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。

　　利用熒光X射線(xiàn)進(jìn)行定量分析的時(shí)候，大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測量線(xiàn)的方法（經(jīng)驗系數法）。這個(gè)方法是測定幾點(diǎn)實(shí)際的已知濃度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線(xiàn)強度和濃度之間的關(guān)系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線(xiàn)，從而得到濃度值。

　　另一個(gè)方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個(gè)方法在*了解樣品的構成和元素種類(lèi)前提，利用計算的各個(gè)熒光X射線(xiàn)強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線(xiàn)強度的組成一致。NBS-GSC法也稱(chēng)作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)熒光強度的?；诖嗽儆嬎鉒achance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強效應。它與經(jīng)驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經(jīng)驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來(lái)校準儀器因子。