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                                        X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢分析

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                                           X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
                                          X熒光光譜儀的優(yōu)劣勢分析如下:
                                          X熒光光譜儀優(yōu)勢:
                                          分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
                                          X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內,這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。
                                          非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
                                          X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
                                          分析精密度高。
                                          制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
                                          X熒光光譜儀劣勢:
                                          難于作分析,故定量分析需要標樣。
                                          對輕元素檢測的靈敏度要低一些。c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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